镍基高温合金平均晶粒度 金相组织分析 比较法检测案例 华瑞测检测拥有一套科学的检测、分析设备,及经验丰富的技术团队,专业从事检测分析技术服务。
本案例介绍比较法检测GH4169合金的晶粒度, 《工程材料与热处理》、《金相分析基础》,通过本案例了解比较法检测金属平均晶粒度的方法及注意事项。
晶界(grain boundary):对于多晶材料,从其一个结晶方向至另一个结晶方向过度的很窄的区域,从而将相邻的晶粒分离。
晶粒(grain):境界所包围的整个区域。即是二维面上所观察到的原始晶界范围内的面积,或是三维物体上原始晶界内所包围的体积。对于有孪晶截面的材料,孪晶界面不予考虑。
晶粒度(grain size):晶粒大小的量度。通常使用长度、面积、体积或晶粒度级别数来表示不同方法评定或测定的晶粒度大小,而使用晶粒度级别数表示的晶粒度与测量方法和使用单位无关。
显微晶粒度级别数(micro-grain size number):显微晶粒度级别数G定义为:N100=2G-1
G—显微晶粒度级别数
N100 —100倍下645.16mm2内晶粒个数
比较法:比较法不需要计数晶粒、截点或截距。与标准系列评级图进行比较,评级图有的是标准挂图,有的是目镜插片。用比较法评估晶粒度一般存在一定偏差(±0.5级)。评级值的重现性与再现性通常为±1级。
材料名称:GH4169
检测标准:GB/T 6393-2017 GB/T14999.4-2012
检测试样(工件名称):某型涡轮盘
检测要求:客户提供取样图及委托单,委托第三方取样机构进行取样,第三方取样机构应标记试样编号,试样检测面,保证检测面面积不小于1cm2。
检测设备:AXIO.Scope.A1蔡司正置金相显微镜
操作规范
(1)试样镶嵌前用无水乙醇清洗干净表面污物。
(2)对检测试样刻号,保证试样区分,防止试样混淆。
(3)样品识别(画出镶嵌、编号示意图),使用MECAPRESS 3全自动热镶嵌机对试样进行镶嵌,在试样制备原始记录单上记录所使用镶嵌料的类型,加热温度,加热和冷却时间等参数(一般根据镶嵌料说明书选取。本次检测采用恒宇牌镶嵌料,加热温度为150℃,加热时间为400s,冷却时间为300s)。若检测试样有特殊要求,不能加热,要使用冷镶嵌。
(4)使用MECATECH234Z自动研磨抛光机进行试样磨抛,并在原始记录单上记录磨抛参数,具体磨抛参数见表1。每次更换砂纸取下卡具连同试样用水清洗,清洁完毕后再进行下一步操作。抛光完毕后用乙醇清洗试样表面,并用风机吹干。
表1 镍基高温合金的磨抛参数
砂纸号数 | 时间(s) | 压力(N) | 转速(r/min) | 转向 |
120# | 540 | 20 | 盘:300;头:150 | 同向 |
600# | 360 | 20 | 盘:300;头:150 | 同向 |
1200# | 420 | 20 | 盘:300;头:150 | 同向 |
抛光(绒布) | 420 | 20 | 盘:300;头:150 | 反向 |
(5)磨抛完毕的样品(腐蚀前)表面应没有污染、加工痕迹、磨抛痕迹或过热。
(6)单个试样进行腐蚀,采用GB/T14999.4-2012中推荐的方法进行腐蚀(腐蚀剂:硫酸铜1.5g+盐酸40mL+无水乙醇20mL;腐蚀时间:6—10s),腐蚀完毕的样品,在显微镜(100×)下观察,试样表面不应有干扰评定的污染和假象。
6. 数据分析及处理
首先观察试样检测面晶粒度大小是否平均(若大小不均匀就按双重晶粒度评定),若试样晶粒大小比较均匀,选择好相应放大倍数,随机取视场法取5个视场,并进行拍照。
比较法将视场图像与标准图谱(100倍或75倍)进行比较,原则上在目镜下对视场参照图谱进行评级,若用采集的图像进行评级,应保证图像为1:1状态,否则误差太大,造成错误数据。另外视场放大倍数不是100倍,一定要进行补偿系数,补偿系数计算公式为:
Q=6.6439lg(M/Mb) 计算值保留0.5个单位
Q—补偿系数; M—实际放大倍数;
Mb—基准放大倍数(100倍或75倍)
图1为本试样径弦向在200倍下晶粒形貌,利用标准图谱(100倍)评级为9.0级,实际放大倍数200倍下的补偿系数约等于2.0,则实际晶粒度为,11.0级,采用同样方法对其余视场进行评级后求平均数,Zui终数据精度为0.5, 即如果平均数为,10.7,靠近取值10.5,如果平均数为10.8,靠近取值11.0,所以晶粒度视场数zuihao为奇数个。本次检测试样平均数为11.2,则Zui总检测结果为11.0级。
图1径弦向晶粒组织形貌(200×)
检测报告
检测报告应该包括委托单位名称、样品名称、样品编号、材料的炉号、材料的批号、热处理状态、检测标准、技术条件、检测环境温度和湿度、检测面方向、检测内容、检测数据及检测结论,报告附检测图片(1:1)。
结论:采用比较法检测金属平均晶粒度时,一定要注意以下几点:(1)zuihao在目镜下将视场图像与标准图谱进行比较,若使用采集图片进行评级时,一定要定倍显示图片(1:1实际大小显示);(2)比较法评级值的重现性与再现性通常为±1级,若试样上有明显超过1.0级的视场时,即试样上不同部位晶粒度相差超过1.0级,需要对不同部位分别采集图像视场数据并分别评定,zuihao在检测报告中报出相应数据。(3)比较法评级采集的视场为奇数个,若为偶数个,则平均数可能会占据0.5分位的中,无法靠近取值。
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